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西川和人:全球首款高精度檢測的OLED 2D光譜儀應(yīng)用優(yōu)勢明顯

編輯:liuchang 2017-07-21 14:35:20 瀏覽:1117  來源:未知

  當(dāng)前,顯示器件的廣色域被眾多廠商越來越重視,然而色域變得更寬廣,對高精度檢測提出了更高的要求。在本屆中國(國際)平板顯示產(chǎn)業(yè)大會趨勢論壇上,日本TOPCON公司銷售部經(jīng)理西川和人特別介紹了該公司研發(fā)的全球首款OLED 2D光譜儀以及相關(guān)應(yīng)用優(yōu)勢。

  西川和人表示,隨著顯示器件色域越來越廣,單點式光譜儀很難進(jìn)行相關(guān)的檢測,檢測精度也不好。他介紹,在進(jìn)行OLED測試時,TOPCON公司發(fā)現(xiàn)分光光譜波長會隨時間而改變,而且影響了顏色再現(xiàn)性,使得在一般檢測設(shè)備上很難檢測。針對以上問題,TOPCON公司克服了很多難以突破的瓶頸,開發(fā)出了二維分光輻射亮度計,于2017年1月正式發(fā)布且同時開始供貨全球首臺二維分光輻射亮度計。

  根據(jù)使用二維分光輻射亮度計所測量的Galaxy  S3、S5、iphone7的畫面,西川和人介紹:“二維分光輻射亮度計可以顯示全部的區(qū)域的任意位置的分光光譜,這也是其他廠家并無法制造這樣高精度設(shè)備的原因。在380-780mm區(qū)間檢測的光譜變化,可以發(fā)現(xiàn)波長上有產(chǎn)生分光,也是可以被二維分光輻射亮度計檢測到。通過對中心點分光光譜比較,可以檢測出設(shè)計階段分光光譜與實際顯示屏分光光譜的一致度,檢測出設(shè)計時與生產(chǎn)時問題點在哪里。”

  據(jù)介紹,二維分光輻射亮度計SR-5000采用TOPCON獨家的核心技術(shù),開發(fā)出可測量的380-780可見光范圍小型透光濾片。同時,TOPCON研發(fā)出了SR5000H,該機(jī)型兼有著分光與彩色濾片復(fù)合功能,根據(jù)實際用途,使用者可以自由選擇。因為OLED是自發(fā)光,像素檢測更加困難,而新機(jī)型SR-5000M/5000HM仍然可以檢測出像素Mura。SR-5000M/5000HM是特別5000M/5000HM是特別為檢測像素Mura所開發(fā)出來的設(shè)備,搭配20倍、50倍、100倍顯微鏡鏡頭,可以檢測到每一個像素的光學(xué)特性。目前二維分光輻射亮度計系列產(chǎn)品已經(jīng)供貨給蘋果、三星、夏普、豐田等全球知名企業(yè)。

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